線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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光學膜厚量測線上研討會
 

貼合wafer厚度

支撐基板使用黏接材料貼合的矽晶圓厚度量測範例。黏接層的厚度均勻度會影響到研磨時Si的均勻度,因此黏階層的厚度均勻度需要做管理。
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