線上免費研討會

【掌握前沿光學膜厚量測技術 : 認識光干涉的原理與應用】

 
我們將介紹最新的光學膜厚量測技術,包括光干涉的原理與應用。在本次研討會中我們為您簡介如何使用光學量測儀器量測薄膜的厚度,精確掌握產品的品質控制與生產效率。我們將與您分享最佳的實踐方法與技巧。
【場次1】2023/06/28 15:00~16:00
【場次2】2023/07/05 14:00~15:00

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光學膜厚量測線上研討會
 

研磨液粒徑、界達電位

CMP粒子會影響研磨的效果。藉由界達電位及粒徑分布可判別液體中的分散、凝集狀態。
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