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反射光譜分析儀系統 MCPD series 反射光譜量測 影印機感光滾筒膜厚量測
反射光譜分析儀系統 MCPD series

分光光譜儀與量測光纖的搭配,解決各種量測需求的最佳方案。

分光光譜儀種類 量測波長範圍
MCPD-9800 : 高動態範圍型 360 ~ 830 nm
360 ~ 1100 nm
240 ~ 800 nm
MCPD-3700 : 紫外/可視/近紅外光型 200 ~ 800 nm
300 ~ 1000 nm
380 ~ 780 nm
MCPD-7700 : 高感度型220 ~ 800 nm
330 ~ 1100 nm
350 ~ 930 nm
MCPD-5000 : 近紅外光型
MCPD-N500 :
900 ~ 1600 nm
1100 ~ 2500 nm
反射光譜量測
  • 光學材料、儲存材料表面特性
  • 各種玻璃的反射特性
  • 抗反射模、蒸鍍膜的反射特性

系統架構
反射光譜量測系統架構1
(1) 分光光譜儀
(2) Y型光纖
(3) 量測用光源
反射光譜量測系統架構2
(1) 分光光譜儀
(2) 受光光纖
(3) 角度變換裝置
(4) 量測用光源
(5) 投光光纖
量測實例
映像管上抗反射膜的反射率
映像管上抗反射膜的反射率
影印機感光滾筒膜厚量測
  • 有機感光滾筒膜、無機硒膜、非晶矽膜

系統架構
影印機感光滾筒膜厚量測系統架構
(1) 分光光譜儀
(2) Y型光纖
(3) X-Y-θ量測平台
(4) 量測用光源
量測實例
感光滾筒隨量測點位的膜厚變化
感光滾筒隨量測點位的膜厚變化
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