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>相位差量測檢查機 RETS-100
可更加精確的量測微小相位差(0.1nm∼)。
最適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。
檢測器採用多頻譜分光光譜儀,展現任一個波長的高精度相位差量測。
可選配傾斜式、旋轉式量測平台,評估三次元折射率參數解析等視野角特性。
配合量測樣品,自由架構量測平台。
液晶層間隙檢查機 RETS series
雙折射相位差光譜分析儀系統 MCPD series
低相位差高速檢查機 RE-100
相位差的波長落差
液晶層間隙(Cell gap)
配向角(光學軸)
方位角、橢圓率、偏光度
穿透率
色度
三次元折射率參數
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光學薄膜
・相位差膜、橢圓膜、相位差板
・偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料
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液晶層
・穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電性液晶)
・反射型液晶層(TN,STN)
樣品對應尺寸
最小20×20mm - 最大100×100mm
(厚度 : 2.5mm以下)
相位差量測範圍
旋轉檢光法
約 0nm ∼ 數μm
光干涉法
約450nm ∼ 數μm
檢測器
分光光譜儀
量測波長範圍
400 ∼ 800nm
量測口徑
φ1, φ2, φ5, φ10mm
光學系統
偏光光學系統
消光率10
-5
的方解石偏光鏡 (Gran-tomson prism)
自動旋轉(角度精度0.1°)
自動裝卸裝置
量測用光原
100W鹵素燈
電源供應器規格
AC100V±10V、1.5kVA
尺寸、重量
540(W)×580(D)×1000(H) mm, 約60kg
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已知入射角度的相位差量測
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三次元折射率參數解析
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