光電科學、半導體分析、平面液晶顯示器檢測設備的最佳供應商
大塚首頁>產品目錄>LED高速光譜分析儀系統 LE series
展示機預約
LED高速光譜分析儀系統 LE series量測項目應用範圍規格樣式系統構成圖量測時間軸量測實例
LED高速光譜分析儀系統 LE series
產品特色
可配合LED生產線,或裝置中的點燈訊號同步高速測量。
透過Windows API關數(.dll)與客戶端所使用的程式連結,提供數據解析及量測結果。(客戶端須具備程式開發能力)
靈活運用各種光纖架構,提供合格判定,級別分類等不可或缺的品質管理。
感光元件具備有電子冷卻功能,輕鬆應付長時間的連續量測。
高速化的量測,不妥協的高再現性數據。
量測項目
三刺激值(kX、kY、kZ)*色度座標(x、y)
色度座標(u、v)色度座標(u’、v’)
主波長(Dominant)、刺激純度(Purity)相關色溫與Duv
演色指數(Ra、R1∼R15)波峰(λmax)位置、高度、半高波寬
第二高度波峰的位置、高度積分值(Summation)
重心波長指定之波長高度量測
依據波峰計算短波長與長波長的積分值 
視所量測之LED及光學系統本身的差異,亮度值(kY)需在固定距離、位置、方向的量測條件下可達到再現性。

應用範圍
■ LED發光二極體
規格樣式
 LE-4400LE-5400
分光方式
光柵分光, F=3,f=135mm
感光元件
PDA (電子冷卻)
CCD (電子冷卻)
量測波長範圍
350~950nm
350~930nm
波長精度*1
±0.3 nm*2 
±0.3 nm*2 
Tact time*3
50 msec
8~15 msec
程式輸入/輸出模式(PIO)
傳輸模式
USB 1.1
USB 2.0
光纖規格*4
長約2m,金屬包覆,固定口徑φ12mm,
 與LED間之距離通常為2~8mm左右(視LED指向特性而異)
消費電力
最大100VA
尺寸
280×296×160 mm
重量
約 10 kg
*1 波長校正用光源對汞物理輝線之確認值    *2 JIS Z 8724規格     *3 視程式編輯、電腦配備而異
*4 
可變更光纖之尺寸、長度等
系統構成圖
系統構成圖

量測時間軸範例
量測時間軸範例

copyright(c)otsuka tech electronics co.,ltd all rights reserved.