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活動訊息
2008台灣平面顯示展(Display Taiwan)

2008台灣平面顯示器展(Display Taiwan 2008)已順利圓滿結束。本公司全體同仁非常感謝各方的支持與愛護,亦將秉持本次展示會所得到的指導與經驗,持續為各業界提供最新的技術產品及優良的服務品質。

展覽名稱 2008台灣平面顯示器展(Display Taiwan 2008)
展出期間2008年6月11日∼13日 10:00 ∼ 18:00(最後一天17:00結束)
展場地點台北世界貿易中心展覽一館
主辦單位PIDA - 光電科技工業協進會
SEMI – 國際半導體及平面顯示器製造設備暨材料同業公司協會
TAITRA - 中華民國對外貿易發展協會
TCA - 台北市電腦商業同業公會
出展位置 B810,B812

出展位置圖
出展產品
In-line 製程線上光譜系列
本公司自行開發製造,經業界嚴格焠鍊的客製化實績與完整的售後服務。
光譜分析儀系列 MCPD series


大塚科技秉持優良的分光光譜儀(MCPD)核心技術,累積與客戶間長期交流的寶貴經驗,將In-line製程線上即時量測系統的功能發揮到到最大可能。因應客戶實際需求的客製化服務,有效率的達到品管與成本的控制。

(左圖片為在製程線上所架設的軸動式量測系統)
系統架構單點式量測、多點式量測、軸動式量測架構
量測項目穿透率、反射率、膜厚、相位差、光學軸檢測、色度、濃度(OD)、光源等
波長範圍190nm ∼ 1600nm
應用範圍LED、偏光膜、相位差膜、塑膠等包裝用膜、
玻璃基板上塗布膜、蒸鍍膜、各種材料表面等
【 相位差評價 】
單點0.1秒以下的世界最高速低相位差與光學軸同時量測的最新產品。
低相位差超高速檢測設備 RE-100
低相位差超高速量測檢查機 RE-100
可量測從0nm開始的低相位差(殘留)。USB數據傳輸,不需任何驅動馬達,可達到量測的高度穩定性。體積輕小,適用於多種環境安裝的最新產品。

解析波長550nm(可選擇其它波長)
量測項目
相位差量測(量測範圍:0nm ∼ 1μm),
光學軸、橢圓率、方位角、三次元折射率等


【 FT-IR 紅外線氣體分析儀 】
單點7秒間隔的高速量測,同時解析約20種不同成分氣體。
工業用氣體分析儀 IG-2000
桌上型光譜式橢圓偏光儀 FE-5000S
內建追蹤認證的氣體資料庫。可高速且高精度進行定性、定量解析。
備有多種光長度的氣體腔與套件,可搭載台車以移動方式監控,也可以配管連結方式多點監控尾氣處理設備的效率評價。

量測波數範圍
600cm-1∼ 5000cm-1
波長量測範圍室溫 DLaTGS
氣體腔種類
1cm, 10cm, 2m, 4.2m, 10m
【 光源評價 】
最新構思設計的LED背光源積分球量測系統!
光通量量測系統(積分半球) HM series
桌上型光譜式橢圓偏光儀 FE-5000S
克服了以往全球狀積分球因受點燈器影響所導致的誤差,光通量評價中最困難的面發光...等背光源的量測也變的輕鬆簡單。不需開啟積分球也可更換量測樣品,操作不佔空間等,相較全球狀積分球擁有更多的優點,更好的量測精度。

檢測器
分光光譜儀系列(MCPD series)
量測項目
光通量、放射狀光束、色度座標、色溫、
演色性評價指數
【 膜厚評價 】
多層膜膜厚的高精度量測,最適用於膜厚、膜質的分析管理。
反射式膜厚量測儀 FE-3000
反射式膜厚量測儀 FE-3000
從紫外到近紅外光領域的反射光光譜,多層膜薄膜到厚膜的廣域量測範圍、非接觸式、不破壞樣品的高精度再現性膜厚量測儀。半導體材料、FPD材料、新機能材料等領域皆可完整對應。

膜厚範圍1nm ∼ 250μm
波長範圍190nm ∼ 1600nm
感光元件PDA、CCD、InGaAs
量測項目絕對反射率分析、多層薄膜解析、
薄膜物理性質解析(n:折射率,k:衰減係數)

【 膜厚評價 】
多層膜膜厚的高精度量測,最適用於膜厚、膜質的分析管理。
動態畫面反應時間量測儀 MPRT-2000
動態畫面反應時間量測儀 MPRT-2000
模擬人類眼球的移動方式的追蹤設計,最小2吋的顯示器到到大面板尺寸,依照量測需求,備有多款機能充實的CCD攝影機。(VESA FPDM2 update規格)


MPRT再現性1 % 以下(階調0-1、不包括1-0)
量測項目BET(ms),EBET(ms),MPRT(ms)
色分離
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